Servizio 3: Analisi e caratterizzazioni

Fornito da Laboratorio Nest della Scuola Superiore Normale

Analisi e caratterizzazione fino alla scala nanometrica con microscopie di tipo ottiche, a scansione di sonda (AFM), di elettroni (SEM) e di gate (SGM), profilometrie ottiche e a stilo, per dispositivi e sistemi di tipo elettronico e fotonico